AC-DC電源芯片集成度高，功能強大，它復(fù)雜的內(nèi)部結(jié)構(gòu)給她的性能、參數(shù)測試帶來了很大的難度，那些AC-DC芯片測試又有那些難點呢，下面跟著驪微電子小編一起來看看：

　　

　　第一，acdc電源芯片 的內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜，要對其經(jīng)行測試，需要對電路的工作原理、電路的結(jié)構(gòu)組成以及各組成部分之間的關(guān)系、測試參數(shù)的原理和相對應(yīng)的測試方法等多方面有深刻的理解和認(rèn)識。

　　

　　第二，AC-DC芯片內(nèi)部包含了許多相對獨立的部分，要實現(xiàn)對每個部分相關(guān)參數(shù)進行測試，都需要設(shè)計專用的測試線路來囊括所有的測試項目，所以就需要測試系統(tǒng)有相應(yīng)的配套，例如測試時間參數(shù)的測量路線(TMU)、測試輸出特性的精密量單元（PMU）等，而且AC-DC芯片需的參數(shù)包含了不同類型的物理量，如頻率量、時間量、電壓量、電流量等，另外還包含某些需要掃描測試的閥值量，因此再測試系統(tǒng)中必須具備針對于不同部分和不同物理量的專用測試路線。

　　

　　第三，由于acdc開關(guān)電源芯片內(nèi)部各組成模塊是相互的作用，所以某一項參數(shù)經(jīng)行測試時，需要考慮其他模塊對其的影響，這就是需要考慮整個器件的工作模式以及各個子模塊在工作模式下的相互關(guān)系。

　　

　　第四，由于AC-DC芯片的某些參數(shù)測試比較敏感，要求測試路線與被測電路之間的外圍不能距離太大，或者在測試的過程中，某些管腳的一些小狀態(tài)就會影響到該參數(shù)的測試準(zhǔn)確性，甚至導(dǎo)致功能消失，所以在設(shè)計測試方案的時候就需要考慮一些控制為的外圍路線如何處理額問題。

　　

　　基于以上分析和其他的一些因素，目前國內(nèi)還沒有能夠全面完成所有AC-DC電源管理芯片測試的一套理想測試系統(tǒng)，目前的設(shè)備基本上只能測試基本的直流參數(shù)、時間參數(shù)等，并不能很好的滿足AC-DC芯片生產(chǎn)和應(yīng)用的測試要求。